Алгоритм учета различных типов субмикронного пространства при построении мультиклассовых цифровых моделей керна

Аннотация: В статье представлен алгоритм для учета субмикронного порового пространства при построении цифровых моделей керна. Основная задача — определение фильтрационно-емкостных свойств (ФЕС) субмикронных областей на основе данных сканирующей электронной микроскопии (СЭМ) высокого разрешения, что позволяет избежать дорогостоящих и разрушающих методов, таких как сканирующая электронная микроскопия с фокусированным ионным пучком (СИП-СЭМ). Алгоритм включает три основных шага. Первый шаг — сегментация СЭМ-изображений для выделения типов субмикронной пористости (по текстурным особенностям или доминирующему минералу). Второй — генерация 3D-моделей из 2D-масок с использованием нейросетевых методов. Третий — расчет пористости и проницаемости для каждого типа субмикронного пространства. Результаты показали хорошее совпадение с данными СИП-СЭМ, подтвердив точность метода. Разработанный подход позволяет детально анализировать субмикронные зоны и улучшать цифровые модели для сложных низкопроницаемых коллекторов, таких как ачимовские отложения и баженовская свита.